车规元器件可靠性验证（AEC）

SGS的全球半导体测试实验室涵盖全方位的AEC-Q 标准测试服务，包括AEC-Q100（集成电路）、AEC-Q101（分立半导体）、AEC-Q102（光电半导体）、AEC-Q103（传感器）、AEC-Q104（多芯片模块）、AEC-Q200（无源元件）以及用于开发和改进汽车半导体的综合故障分析和材料分析。

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车规元器件的可靠性验证（AEC）

加速环境应力测试丨加速寿命测试丨封装组装可靠性验证丨电气特性测试丨空腔体封装应力验证

服务背景

伴随着汽车产业的发展，国内车电企业的份额有望持续提升。随着燃油车向电动汽车需求的快速转变，带动车用元器件高速增长。与此同时，在芯片国产化的大背景下，随着国内车用元器件的兴起，车用电子元器件对可靠性的要求也越来越高。作为车规器件可靠性的验证门槛，AEC-Q系列可靠性验证越来越受到关注。

车用电子主要依据国际汽车电子协会(Automotive Electronics Council，简称AEC)作为车规验证标准，包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(分离元器件)、AEC-Q102(离散光电元器件)、AEC-Q103(压力传感器/麦克风) 、AEC-Q104(多芯片模组)、AEC-Q200(被动元器件)。其测试条件虽然比消费型芯片规范严苛，但测试条件仍以JEDEC或MIL-STD为主，另外加入特殊规格，例如电磁兼容性(EMC)验证。

SGS作为AEC汽车技术委员会成员，拥有完善的车规器件可靠性验证能力，SGS的全球半导体测试实验室涵盖全方位的AEC-Q标准测试服务。