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SGS受邀出席2024世界碳化硅大会并发表主题演讲

SGS受邀出席2024世界碳化硅大会并发表主题演讲

原创
2024-04-13 17:00:00
展会及研讨会
作者: SGS_SEMI
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近日,2024世界碳化硅大会在武汉盛大召开,吸引了全球碳化硅领域的专家学者、企业代表齐聚一堂,共同探讨碳化硅技术的最新进展与未来趋势。在这场科技盛宴中,作为国际公认的测试、检验和认证机构,SGS受邀出席并就“SiC功率器件的车规可靠性认证”发表主题演讲,共同探讨和推动产业的繁荣与进步。

2024世界碳化硅大会
SGS半导体及可靠性事业部全国技术经理朱炬解读了车规器件、工业级器件以及消费电子器件在整体可靠性水平上的不同要求。车规器件作为汽车关键零部件,其可靠性要求远高于其他类型的电子器件。在汽车使用过程中,器件需要经受住各种恶劣环境的考验,包括高温、低温、湿度、振动等多种因素。因此,车规器件在设计和生产过程中,需要采用更为严格的标准和更为精细的工艺。

2024世界碳化硅大会
车规可靠性认证
而AEC-Q系列认证是公认的车规元器件的通用测试标准,其中AEC-Q101是基于失效机理的分立半导体元件应力测试鉴定,是分立半导体元件应用于汽车领域的基本门槛。该标准包括温度范围、抗震动和抗冲击、电磁兼容性、寿命测试以及电气特性等多方面的测试要求。对于功率器件而言,这些测试要求尤为重要,因为它们直接关系到汽车的运行效率和安全性。

加强车规级器件可靠性认证的研究与实践,提升国产芯片的整体可靠性水平,是当前行业发展的重要方向。SGS已经建立了一套完善的可靠性测试认证体系,能够为客户提供从器件设计、生产到认证的全过程服务,致力于共同推动SiC功率器件在车规领域的应用和发展。

SGS布局汽车电子产品领域检测认证多年,现已加入AEC-Q100、Q101、Q102、Q103、Q104、Q200分会参与标准制定工作。凭借专业的技术、丰富的经验、完善的设备和优质的服务,SGS半导体及可靠性实验室现已成为国内专业的测试实验室并得到了中国合格评定国家认可委员会(CNAS)及众多客户的认可。实验室拥有涵盖环境可靠性测试和失效分析类测试所需的行内知名品牌设备,可为企业提供各类测试服务。SGS半导体及可靠性实验室可完成MIL/ GJB/ IEC/ AEC/ JEDEC/ IPC等各类广泛应用于大多数国家及行业的测试标准,涵盖并满足各类产品测试需求。同时SGS还致力于为有特殊要求的企业及高端产品提供量身定制的测试方案、技术支持及各类培训服务,为企业产品顺利进驻国内外市场提供高效支持。

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