技术干货 | 半导体器件失效分析的高效诊断技术——IV曲线测试

IV曲线测试，是一种重要的电子元器件性能评估方法，广泛应用于半导体行业，尤其在集成电路失效分析中发挥着重要作用。它可以用于测试各种类型的半导体器件，例如IC芯片、二极管、晶体管、MOS管、被动元器件等。通过IV曲线测试，我们可以快速筛选出不良品，提高产品的质量和可靠性。

IV曲线测试原理
IV曲线测试，即电流-电压特性曲线测试，基于欧姆定律，通过测量不同电压和电流下的电流和电压值，绘制出电流与电压之间的关系曲线。这种测试可以快速揭示器件的电性失效模式，如短路、断路、漏电和高阻等异常情况，为后续失效分析提供重要的数据参考。

如何进行IV curve曲线测试？

（ 1 ）选择测试设备

使用KEITHLEY 2636B数字电源/ Keysight B1500A和Probe探针台搭配对失效器件进行脚位连接测试。

2636B数字电源



Probe探针台

（ 2 ）确认测试条件

在测试前，确认失效器件规格书、Pin脚定义图、待测脚位限压限流值、电压步进Step。

（ 3 ）数据处理与分析

测试结束后，‌对采集到的电流和电压数据进行处理和分析，‌绘制出IV特性曲线。‌通过曲线可以直观地观察到失效器件在不同电流和电压下的性能表现。

IV curve曲线测试作用
IV Curve曲线测试在失效分析中主要对失效器件进行电性能测试及电性复现，通过与正常器件的IV曲线对比，可以发现失效器件的电性差异，从而确定失效的具体模式。

常见的电性失效模式

• 短路
  指电路中的电阻减小，导致电流突然变大，从而改变电流路径，可能导致设备或系统的功能异常或损坏。
  
  

测试示意图