2025年9月16日，2025洁净技术高峰论坛在上海召开，作为国际公认的测试、检验和认证机构，SGS受邀出席并发表《洁净室控降分子污染 (AMC)》主题演讲，从技术解析到实践应用，为行业带来分子级污染管控的专业视角。
SGS微电子服务技术经理River Lee发表主题演讲
论坛现场，SGS微电子服务技术经理River Lee开篇即点出洁净技术领域的核心认知升级 —— 传统洁净室测试多聚焦于微粒控制，却常忽视化学性分子级污染物（AMC）的潜在影响。“在光刻、半导体制造、生物制药等对环境敏感度极高的领域，即使微量AMC也可能直接影响产品良率与制程稳定性。”River强调，随着半导体晶圆不断微小化、平面显示器尺寸持续扩大，制程产品对微量污染物的耐受阈值愈发严苛，AMC管控已从 “可选优化项” 转变为 “核心刚需项”。
SGS演讲现场
AMC管控已经不是单一的测试环节，而是贯穿洁净室全生命周期的系统工程。科学的监控计划结合高精度测量方法，是有效评估和控制洁净室AMC浓度的关键。SGS 已形成覆盖AMC风险评估、测试验证、方案优化的一站式服务，可根据企业的不同场景，提供专属技术支持。
SEMI F21洁净室空降分子污染（AMC）分析
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