背景随着电子电气产品向小型化、高集成度和高频化发展，研发阶段快速识别电磁兼容风险，对于缩短整改周期、降低认证成本尤为重要。 SGS苏州配置GTEM小室，可为小型整机、模块、PCB及零部件提供高效的辐射发射预评估与射频电磁场抗扰度测试服务。GTEM 配置IC测试开口，可支持集成电路相关测试，助力企业提升研发验证效率及正式测试一次通过率。支持标准■ IEC/EN 61000-4-20：TEM/GTEM中的发射与抗扰度测试；■ SAE J1752/3：集成电路辐射电磁兼容测量GTEM方法；■ IEC 62132-2：集成电路电磁抗扰度GTEM方法；■ IEC 61967-2：集成电路辐射发射GTEM方法。典型应用■ 集成电路IC及模块；■ 工业控制器、传感器及IoT终端；■ 汽车电子零部件及控制模块；■ 新能源电力电子控制板与通信模块；■ 医疗电子、仪器仪表及消费电子；■ PCB、电子模块及研发样机。能力说明■ 辐射发射快速扫描与对比评估；■ 射频电磁场抗扰度测试及问题复现；■ 设计变更前后效果验证；■ 测试频率、场强和EUT尺寸根据具体配置及项目方案确认。SGS苏州GTEM小室的优势■ 在同一屏蔽环境中，支持辐射发射与辐射抗扰度测试，测试部署高效；■ 宽频设计，设备标称频率范围覆盖DC至20 GHz；其中IEC/EN 61000-4-20对应频率范围为30 MHz至3 GHz；■ 良好的重复性和可控性，适合研发阶段样机对比、问题复现及整改效果验证；■ 较高的功率转换效率，可在较小功放配置下获得所需场强；■ 支持小型整机、PCB、电子模块及IC测试，可与SGS苏州10m/3m电波暗室和EMS能力协同。
SGS解决方案凭借全球性的服务网络、专业的技术专家团队和丰富的电子电气产品测试认证经验，SGS可为工业、新能源、汽车电子、医疗、信息技术及消费电子等领域提供从研发预评估、差距分析、整改验证到正式认证测试的多维度电磁兼容解决方案，助力企业产品顺利进入全球市场。
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